西安天光测控高温高湿反偏测试台(H3TRB)可靠性测试...
品牌:西安天光测控 规格:ST-H3TRB_X
用途:
半导体特性测试仪
品牌:天光测控 规格:ST-DC2000_X
用途:IGBT,MOSFET,二极管;三极管,可控硅,光耦,继电器...
天光测控 ST-PC_X半导体器件老化测试筛选系统...
品牌:天光测控 规格:可测试 Si / SiC / GaN 材料的 I...
用途:HTRB高温反偏,HTGB高温栅偏,H3TRB高温高湿反偏...
天光测控PN结电容特性测试仪
品牌:天光测控 规格:
用途:用于测量半导体分立器件的栅电阻Rg、 输入电容Ciss、...
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